谱仪类仪器
微晶电子衍射场发射透射电镜
设备型号:JEM-F200
仪器品牌:日本电子
放置区域:17楼127室
负责教师:林奎
联系方式:022-27893537
技术参数
1） 电子枪：冷场发射电子源； 2） 放大倍数：TEM模式下，20k-2000k；STEM模式下，10k-150M; 3） TEM线分辨率：0.10 nm@200 kV，点分辨率：0.23 nm@200 kV； 4） STEM-HAADF点分辨率：0.136 nm@200 kV；
功能特色
JEM-F200微晶电子衍射场发射透射电镜采用冷场发射枪，配有HAADF附件，可进行材料微观结构分析：拍摄TEM明场像、暗场像、高分辨像、电子衍射、二次电子像及扫描透射像。
应用领域
适用于材料、化工、半导体、新能源等领域，可对金属、非金属、陶瓷和各种纳米材料的微观形貌及晶体结构进行表征。